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    Zeta電位分析儀的測(cè)量原理竟是如此

    發(fā)布日期: 2021-09-14
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      Zeta電位分析儀是一款新型的、多用途分析儀,是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及FST技術(shù)來(lái)分析的納米粒度儀和zeta電位一體機(jī),并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位,符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。該儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù),可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求,濃度范圍由0.001%到40%,可檢測(cè)粒徑從0.6nm到10μm,濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。
      Zeta電位分析儀的測(cè)量原理:
      該儀器采用電聲學(xué)原理來(lái)測(cè)量顆粒的電動(dòng)特性。在分散系中加入1個(gè)高頻的電場(chǎng),則帶電顆粒相相應(yīng)電場(chǎng)內(nèi)進(jìn)行電泳。如果在顆粒與液體之間產(chǎn)生1個(gè)密度差,則這種運(yùn)動(dòng)會(huì)產(chǎn)生1個(gè)交互的聲波。采用該電場(chǎng)和對(duì)應(yīng)的聲波技術(shù)可對(duì)樣品進(jìn)行無(wú)干擾的測(cè)量,不會(huì)破壞樣品的特性。
      其他技術(shù)如微量電泳和電泳光散射技術(shù),須要樣品被稀釋?zhuān)氁獙⒃紳舛鹊臉悠贩糯笙♂尯脦妆丁R虼耍?終用戶(hù)須在人為的狀態(tài)下分析顆粒樣品的特性,而不是獲得實(shí)際狀態(tài)下樣品的真實(shí)特性描述。并且,嚴(yán)格的光學(xué)聚焦和擴(kuò)展調(diào)整來(lái)適應(yīng)靜態(tài)的層裝樣品,使得微量電泳技術(shù)變得非常煩瑣,而大的直流電場(chǎng)可導(dǎo)致樣品的PH發(fā)生漂移。如果采用ZetaFinder型電位分析儀,則這些問(wèn)題將不復(fù)存在。
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